2016年9月23日，2016LED失效分析與封裝技術(shù)專題研討會盛大開幕，為了零距離與客戶溝通交流，美信檢測特將參會客戶邀請至公司總部，參加本次研討會，同時參觀美信檢測實(shí)驗(yàn)室，與技術(shù)工程師面對面交流。

會議開始，美信檢測研發(fā)中心經(jīng)理王君兆以塑封器件的可靠性問題展開討論，內(nèi)容豐富精彩，詳細(xì)分析了塑封器件的主要失效模式、可靠性評價及降額設(shè)計(jì)的相關(guān)問題。其中經(jīng)典案例涉及燈具耐熱性能、散熱性能，界面分層帶來的危害，LED弱亮現(xiàn)象、熱失效分析等等。

美信檢測研發(fā)中心失效分析專家分析了LED燈具結(jié)溫測試方法及熱特性分析，內(nèi)容涵蓋LED燈具散熱性能的評價方法、電學(xué)法實(shí)現(xiàn)結(jié)溫測量的基本原理、等效K系數(shù)實(shí)驗(yàn)結(jié)論分享及LED結(jié)構(gòu)熱阻模型的應(yīng)用實(shí)例，得到了廣大專業(yè)觀眾的熱烈反響，在講解過程中，講師根據(jù)自己實(shí)操積累的經(jīng)驗(yàn)，分享了目前燈具結(jié)溫測試方面的一些特殊案例，與觀眾共同探討，如等效K系數(shù)實(shí)驗(yàn)結(jié)論、LED結(jié)構(gòu)熱阻模型應(yīng)用實(shí)例等等。

最后，由美信檢測失效分析專家分享了表面分析技術(shù)的內(nèi)容，主要講解了表面成分分析技術(shù)、樣品制備技術(shù)、材料表面表征等，圍繞LED測試案例詳細(xì)解析，LED chip變色分析、LED Chip表面孔洞缺陷、LED Chip表面3D形貌分析等等LED相關(guān)案例，通過實(shí)際案例分析了AES、XPS、TOF-SIMS、D-SIMS、EDS等表面分析技術(shù)的應(yīng)用。

會后，在工作人員的精心安排下，專業(yè)聽眾參觀了美信檢測的實(shí)驗(yàn)室，包含化學(xué)實(shí)驗(yàn)室、物理實(shí)驗(yàn)室、顯微分析實(shí)驗(yàn)室、前處理實(shí)驗(yàn)室、清潔度實(shí)驗(yàn)室等，美信檢測技術(shù)工程師對各個實(shí)驗(yàn)室做了詳細(xì)講解，特別講述了講師分享的實(shí)驗(yàn)儀器，得到了聽眾的良好反饋。

【走進(jìn)美信檢測】系列研討會，旨在使客戶交流技術(shù)知識的同時更多的了解美信檢測，與美信檢測技術(shù)工程師面對零距離交流溝通，為廣大客戶創(chuàng)造一個良好的交流平臺。【走進(jìn)美信檢測】系列研討會將會持續(xù)舉辦，非常感謝廣大客戶對美信檢測的關(guān)注與支持。

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MTT（美信檢測）是一家從事材料及零部件品質(zhì)檢驗(yàn)、鑒定、認(rèn)證及失效分析服務(wù)的第三方實(shí)驗(yàn)室，網(wǎng)址：tywhcyw.com.cn，聯(lián)系電話：400-850-4050。